mikroskop afm daya atom
Mikroskop Daya Atom (AFM), alat analisis yang boleh digunakan untuk mengkaji struktur permukaan bahan pepejal, termasuk penebat.Ia mengkaji struktur permukaan dan sifat bahan dengan mengesan interaksi interatomik yang sangat lemah antara permukaan sampel yang akan diuji dan unsur sensitif daya mikro.Akan menjadi sepasang daya lemah yang sangat sensitif mikro-julur hujung tetap, hujung yang lain hujung kecil dekat dengan sampel, maka ia akan berinteraksi dengannya, daya akan membuat ubah bentuk mikro-julur atau perubahan keadaan pergerakan.Apabila mengimbas sampel, sensor boleh digunakan untuk mengesan perubahan ini, kita boleh mendapatkan pengedaran maklumat daya, untuk mendapatkan morfologi permukaan maklumat resolusi nano dan maklumat kekasaran permukaan.
★ Probe pengimbasan bersepadu dan rusa jantan sampel meningkatkan keupayaan anti-gangguan.
★ Laser ketepatan dan peranti penentu kedudukan kuar menjadikan menukar probe dan melaraskan tempat itu mudah dan mudah.
★ Dengan menggunakan kuar sampel dengan cara menghampiri, jarum boleh berserenjang dengan pengimbasan sampel.
★ Kawalan pacuan motor nadi automatik kuar sampel menegak menghampiri, untuk mencapai kedudukan tepat kawasan imbasan.
★ Kawasan pengimbasan sampel yang diminati boleh dialihkan dengan bebas dengan menggunakan reka bentuk peranti mudah alih sampel berketepatan tinggi.
★ Sistem cerapan CCD dengan kedudukan optik mencapai pemerhatian masa nyata dan kedudukan kawasan imbasan sampel siasatan.
★ Reka bentuk sistem kawalan elektronik modularisasi memudahkan penyelenggaraan dan penambahbaikan berterusan litar.
★ Penyepaduan litar kawalan mod pengimbasan berbilang, bekerjasama dengan sistem perisian.
★ Suspensi spring yang mudah dan praktikal meningkatkan keupayaan anti-gangguan.
| Mod kerja | FM-Tapping, sentuhan pilihan, geseran, fasa, magnet atau elektrostatik |
| Saiz | Φ≤90mm,H≤20mm |
| Julat pengimbasan | Arah XY 20 mmin,2 mm ke arah Z. |
| Resolusi pengimbasan | 0.2nm dalam arah XY,0.05nm ke arah Z |
| Julat pergerakan sampel | ±6.5mm |
| Lebar nadi motor menghampiri | 10±2ms |
| Titik persampelan imej | 256×256,512×512 |
| Pembesaran optik | 4X |
| Resolusi optik | 2.5 mm |
| Kadar imbasan | 0.6Hz~4.34Hz |
| Sudut imbasan | 0°~360° |
| Kawalan pengimbasan | 18-bit D/A dalam arah XY,16-bit D/A dalam arah Z |
| Persampelan data | 14-bitA / D,pensampelan segerak berbilang saluran A/D double16-bit |
| Maklum balas | Maklum balas digital DSP |
| Kadar pensampelan maklum balas | 64.0KHz |
| Antara muka komputer | USB2.0 |
| Persekitaran operasi | Windows98/2000/XP/7/8 |