Jenama: NANBEI
Model:AFM
Mikroskop Daya Atom (AFM), alat analisis yang boleh digunakan untuk mengkaji struktur permukaan bahan pepejal, termasuk penebat.Ia mengkaji struktur permukaan dan sifat bahan dengan mengesan interaksi interatomik yang sangat lemah antara permukaan sampel yang akan diuji dan unsur sensitif daya mikro.