• head_banner_01

Spektrometer Pendarfluor X-Ray

Spektrometer Pendarfluor X-Ray

Penerangan Ringkas:

Jenama: NANBEI

Model:X-ray

Medan peralatan elektronik dan elektrik yang disasarkan oleh arahan RoHS, medan automotif yang disasarkan oleh arahan ELV, dan mainan kanak-kanak, dsb., disasarkan oleh arahan EN71, yang mengehadkan penggunaan bahan berbahaya yang terkandung dalam produk.Bukan sahaja di Eropah, tetapi juga semakin ketat pada skala global.Nanbei XD-8010, dengan kelajuan analisis yang pantas, ketepatan sampel yang tinggi dan kebolehulangan yang baik Tiada kerosakan, tiada pencemaran kepada alam sekitar.Kelebihan teknikal ini boleh menyelesaikan batasan ini dengan mudah.


Butiran Produk

Tag Produk

Aplikasi

Biro Penyeliaan Kualiti dan Teknikal (Arahan Alam Sekitar)
RoHS/Rohs (China)/ELF/EN71
Mainan
Kertas, seramik, cat, logam, dll.
Bahan elektrik dan elektronik
Semikonduktor, bahan magnet, pateri, bahagian elektronik, dsb.
Keluli, logam bukan ferus
Aloi, logam berharga, sanga, bijih, dll.
industri kimia
Produk mineral, gentian kimia, pemangkin, salutan, cat, kosmetik, dsb.
persekitaran
Tanah, makanan, sisa industri, serbuk arang batu
Minyak
Minyak, minyak pelincir, minyak berat, polimer, dll.
lain
Pengukuran ketebalan salutan, arang batu, arkeologi, penyelidikan bahan dan forensik, dsb.

ciri-ciri

● Tiga jenis sistem keselamatan sinaran X-ray yang berbeza, sambung perisian, sambung perkakasan dan sambung mekanikal, akan menghapuskan kebocoran sinaran sepenuhnya di bawah sebarang keadaan kerja.
● XD-8010 menampilkan laluan optik yang direka bentuk unik yang meminimumkan jarak antara sumber sinar-X, sampel dan pengesan sambil mengekalkan fleksibiliti untuk bertukar antara pelbagai penapis dan kolimator.Ini meningkatkan sensitiviti dengan ketara dan mengurangkan had pengesanan.
● Ruang sampel volum besar membolehkan sampel besar dianalisis secara langsung tanpa memerlukan kerosakan atau pra-rawatan.
● Analisis satu butang yang ringkas menggunakan antara muka perisian yang mudah dan intuitif.Latihan profesional tidak diperlukan untuk melaksanakan operasi asas instrumen.
● XD-8010 menyediakan analisis unsur pantas unsur dari S hingga U, dengan masa analisis boleh laras.
● Sehingga 15 gabungan penapis dan kolimator.Penapis pelbagai ketebalan dan bahan tersedia, serta kolimator antara Φ1 mm hingga Φ7 mm.
● Ciri pemformatan laporan yang berkuasa membolehkan penyesuaian fleksibel bagi laporan analisis yang dijana secara automatik.Laporan yang dijana boleh disimpan dalam format PDF dan Excel.Data analisis disimpan secara automatik selepas setiap analisis. Data dan statistik sejarah boleh diakses pada bila-bila masa daripada antara muka pertanyaan yang mudah.
● Menggunakan kamera sampel instrumen, anda boleh memerhatikan kedudukan sampel berbanding fokus sumber sinar-X.Gambar sampel diambil apabila analisis bermula dan boleh dipaparkan dalam laporan analisis.
● Alat perbandingan spektrum perisian berguna untuk analisis kualitatif dan pengenalpastian dan perbandingan bahan.
● Dengan menggunakan kaedah analisis kualitatif dan kuantitatif yang terbukti dan berkesan, ketepatan keputusan boleh terjamin.
● Ciri pemasangan lengkung penentukuran yang terbuka dan fleksibel berguna untuk pelbagai aplikasi seperti pengesanan bahan berbahaya.

de (3)

Kaedah analisis unsur berbahaya

Bahan berbahaya Contoh
Analisis Saringan Analisis terperinci
Hg spektroskopi sinar-X AAS
Pb
Cd
Cr6 + Spektroskopi sinar-X(Analisis jumlah Cr) Kromatografi ion
PBB / PBDE Spektroskopi sinar-X(Analisis jumlah Br) GC-MS

Proses Pengurusan Kualiti

de (4)

Contoh Aplikasi

Pengukuran unsur surih berbahaya dalam sampel polietilena, seperti Cr, Br, Cd, Hg dan Pb.
• Perbezaan nilai yang diberi dan nilai sebenar Cr, Br, Cd, Hg dan Pb.
Perbezaan nilai yang diberikan dan nilai sebenar Cr, (Unit: ppm)

Sampel Nilai Diberi Nilai Sebenar (XD-8010)
kosong 0 0
Sampel 1 97.3 97.4
Sampel 2 288 309.8
Sampel 3 1122 1107.6

Perbezaan nilai yang diberikan dan nilai sebenar Br, (Unit: ppm)

Sampel Nilai Diberi Nilai Sebenar (XD-8010)
kosong 0 0
Sampel 1 90 89.7
Sampel 2 280 281.3
Sampel 3 1116 1114.1

Perbezaan nilai yang diberikan dan nilai sebenar Cd, (Unit: ppm)

Sampel Nilai Diberi Nilai Sebenar (XD-8010)
kosong 0 0
Sampel 1 8.7 9.8
Sampel 2 26.7 23.8
Sampel 3 107 107.5

Perbezaan nilai yang diberikan dan nilai sebenar og Hg, (Unit: ppm)

Sampel Nilai Diberi Nilai Sebenar (XD-8010)
kosong 0 0
Sampel 1 91.5 87.5
Sampel 2 271 283.5
Sampel 3 1096 1089.5

 

Perbezaan nilai yang diberi dan nilai sebenar Pb, (Unit: ppm)

Sampel Nilai Diberi Nilai Sebenar (XD-8010)
kosong 0 0
Sampel 1 93.1 91.4
Sampel 2 276 283.9
Sampel 3 1122 1120.3

 

Data pengukuran berulang sampel 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (Unit: ppm)

Cr Br Cd Hg Pb
1 1128.7 1118.9 110.4 1079.5 1109.4
2 1126.2 1119.5 110.8 1072.4 1131.8
3 1111.5 1115.5 115.8 1068.9 1099.5
4 1122.1 1119.9 110.3 1086.0 1103.0
5 1115.6 1123.6 103.9 1080.7 1114.8
6 1136.6 1113.2 101.2 1068.8 1103.6
7 1129.5 1112.4 105.3 1079.0 1108.0
Purata 1124.3 1117.6 108.2 1076.5 1110.0
Sisihan piawai 8.61 4.03 4.99 6.54 10.82
RSD 0.77% 0.36% 4.62% 0.61% 0.98%

Penapis sekunder untuk unsur Pb (Sampel substrat keluli), Sampel: Keluli (Pb 113ppm)

de (1)

Prinsip Kerja

1. Sinaran sinar-X daripada tiub sinar-X primer, disinari melalui kolimator kepada sampel.
2.Ciri pengujaan sinar-X utama unsur-unsur yang terkandung dalam sampel sinar-X melalui kolimator sekunder ke dalam pengesan
3. Diproses melalui pengesan, membentuk data spektroskopi pendarfluor
4.Analisis data spektroskopi komputer, analisis kualitatif dan kuantitatif selesai

de (2)

Parameter teknikal

Model NB-8010
Analisis
prinsip
Pendarfluor sinar-X penyebaran tenaga
analisis
Julat Elemen S (16)U (92) sebarang unsur
Sampel Plastik / logam / filem / pepejal /
cecair / serbuk, dsb., sebarang saiz dan bentuk yang tidak teratur
tiub sinar-X Sasaran Mo
Voltan tiub (5-50) kV
Arus tiub (10-1000) dan lain-lain
Penyinaran sampel
diameter
F1mm-F7mm
Penapis 15 set penapis komposit ialah
dipilih secara automatik, dan penukaran automatik
Pengesan Import dari Amerika Syarikat
Pengesan Si-PIN
Pemprosesan data
papan litar
Import dari Amerika Syarikat, dengan
penggunaan set pengesan Si-PIN
Sampel
pemerhatian
Dengan kamera CCD 300,000 piksel
Ruang sampel
saiz
490 (L)´430 (W)´150 (H)
Kaedah analisis Linear linear, garisan Kod kuadratik,
pembetulan penentukuran kekuatan dan kepekatan
Sistem operasi
perisian
Windows XP, Windows7
Pengurusan Data Pengurusan data Excel, laporan ujian,
Format PDF / Excel disimpan
sedang bekerja
persekitaran
Suhu: £30°C. Kelembapan£70%
Berat badan 55kg
Dimensi 550´450´395
Bekalan kuasa AC220V±10%, 50/60Hz
Keazaman
syarat
Persekitaran atmosfera

  • Sebelumnya:
  • Seterusnya:

  • Tulis mesej anda di sini dan hantar kepada kami

    Kategori produk